提 供 商：
復納科學儀器（上海）有限公司資料大?。?/p>PNG
圖片類型：
PNG資料類型：
PDF下載次數：
311詳細介紹：
掃描電子顯微鏡（SEM）利用電子束從納米尺度的樣品中獲取信息。所檢測到的主要信號類型是背散射電子（BSE）和二次電子（SE），它們在高倍率下生成樣品的灰度圖像。然而，還有許多其他的電子與樣品表面物質相互作用的產物——這些信號可以提供關于樣品的額外信息。在這篇博客中，我們將闡述掃描電鏡中的能譜（EDX）是如何工作的。
電子 —— 與樣品表面的相互作用
入射電子與樣品表面的物質相互作用產生了各種各樣的信號，這些信號攜帶了關于樣品的不同信息 （圖1）。例如，背散射電子產生的圖像與原子序數的差異有關; 二次電子給出了形貌細節(jié)信息，陰極發(fā)光可以提供關于電子結構和材料化學成分的信息; 透射電子可以描述樣品的內部結構和晶體學。在掃描電鏡中廣泛使用的另一種信號是X射線。
圖1：電子物質相互作用中產生不同信號的例證。
傳真：
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權所有 © 2018 復納科學儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術支持：化工儀器網 GoogleSitemap
